Utility of Scanning Transmission X-ray Microscopy to Investigate Chemical Composition in Perovskite Thin Films - Laboratoire de Physique des Interfaces et des Couches Minces (PICM) Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2021

Utility of Scanning Transmission X-ray Microscopy to Investigate Chemical Composition in Perovskite Thin Films

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https://cea.hal.science/cea-03123519

Soumis le : jeudi 28 janvier 2021-07:20:21

Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-11:50:08

Archivage à long terme le : jeudi 29 avril 2021-18:14:07

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Dates et versions

cea-03123519 , version 1 (28-01-2021)

Identifiants

  • HAL Id : cea-03123519 , version 1

Citer

Haeyon Jun, Denis Tondelier, Bernard Geffroy, Jean-Eric Bourée, Sufal Swaraj, et al.. Utility of Scanning Transmission X-ray Microscopy to Investigate Chemical Composition in Perovskite Thin Films. Journées Nationales du Photovoltaïque, Jan 2021, Dourdan, France. , 2021. ⟨cea-03123519⟩

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